EO Elektronen-Optik-Service GmbH

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Ihr Partner für die analytische Rasterelektronenmikroskopie

 

Unsere
Produktpalette:

 
Rasterelektronenmikroskope
Individuell auf den Kundenbedarf zugeschnitte REM
 
Focused Ion Beam Mikroskope
FIB-REM / PFIB-REM / Dual Column Systeme mit GIS, SPM, ToF-SIMS, Nanomanipulatoren und anderen Analysensystemen
 
Analysensysteme
EDX, WDX, EBSD, Bildanalyse, 3D-Oberflächenanalyse, Digitale Bildverarbeitung
 
Mess- und Prüfverfahren
Nanoindenter für REM und FIB-REM oder als Stand-Alone Gerät

Probenpräparation
Sputter Coater, Carbon Coater, EB Carbon Coater, Research Coater, Multi-Plasma-Systeme
 
Magnetfeldkompensation
für REM, TEM, FIB-REM &
Wafer-Inspection Systeme

 
Zubehör und Ersatzteile
von der Kathode über den Probenschraubstock bis zur Schwingungsdämpfungssystem
 

Sie wollen ein Rasterelektronenmikroskop kaufen? Als Generalvertretung von TESCAN, einem der weltweit führenden Hersteller von REM, FIB- und PFIB-REM  mit Wolfram-, LaB6- oder FE-Kathode, bieten wir Ihnen eine große Bandbreite verschiedenster Systeme und Peripherie- geräte zu einem attraktiven Preis.

 

W-REM, LaB6-REM, FE-REM,
UHR FE-REM, FIB-REM, PFIB-REM,
GIS, EDX, WDX, EBIC, EBSD, KL, TE, SE,
RE / BSE, LVSTD, TOF-SIMS, AFM und mehr

TESCAN
LYRA XMU
FE FIB-REM

rasterelektronenmikroskop.eu

seit über 35 Jahren in Deutschland, Österreich, Benelux und der Schweiz

Einige Einsatzgebiete der TESCAN Rasterlektronenmikrsoskope
W-REM, LaB6-REM, FE-REM, UHR FE-REM, Spezial-REM, FIB-REM und PFIB-REM

Industrie
Forschung
Entwicklung
Qualitätskontrolle
Materialwissenschaft
Materialprüfung
Härteprüfung
Forensik

Nanotechnologie
Halbleitertechnik
TEM Lamellen
TSV Analyse
3D-Messtechnik
3D-Tomographie
3D-Topographie
Life Science

Lithographie
Archäologie
Mineralogie
Bergbauindustrie
Mineralverarbeitung
Schadstoffuntersuchung
Feinstaubuntersuchung
Wissenschaft

 

 

Rasterelektronenmikroskop Serien
Focused Ion Beam Serien
Spezial REM und FIB-REM Serien

 


www.eos-do.de

 

 

www.piescientific.eu

 

www.tescan.de

 

www.nanoindenter.de

 

 

www.cressington.de

 

www.schwingungsdaempfung.com

 

www.magnetfeldkompensation.de

 

 

 

Rasterelektronenmikroskope

Focused Ion Beam Mikroskope

Analysensysteme

Probenpräparation

Magnetfeldkompensation

Zubehör
 

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